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郑玉祥

系别: 光科学与工程系
职称: 教授 博导
职务:
办公室: 科学楼403
电话: 65643470
E-mail: yxzheng@fudan.ac.cn
主页:
   
教育背景
1986/09至1990/06   西安交通大学,电子工程系,本科/学士   
1990/09至1993/06   西安交通大学,电子工程系,研究生/硕士   
1993/09至1996/06   复旦大学,物理系,研究生/博士   
研究方向
(1)光电子薄膜材料的光学与磁光性质研究 (2)先进光谱技术研究 (3)光学薄膜器件优化设计研究
课程教学
本科课程:《近代光学》、《工程数学》或《数学物理方法》)、《大学物理》等
研究生课程:《偏振光学原理与应用》、《激光前沿讲座》
学术兼职
日本应用磁学会正会员
上海市激光学会副理事长
科研项目
上海市科委项目:信息光学薄膜器件优化设计系统关键技术研究(11dz1121900 ):
国家自然科学基金面上项目:纳米信息功能薄膜的变温快速椭圆偏振特性分析和研究(60778028 ):
国家自然科学基金面上项目:光在强色散合金膜及颗粒膜界面反常折射过程中相位突变研究(61275160):
上海市优秀技术带头人计划:信息光学薄膜器件优化设计系统研发(12XD1420600):
教育部新世纪人才计划:快速光谱获取技术及其在环境科学中的应用(NCET-060365 ):
论文著作
1.Application of image spectrometer to in situ infrared broadband optical monitoring for thin film deposition,Opt. Express,2011,19, 12969,
2.Evolution of optical constants of silicon dioxide on silicon from ultrathin films to thick films,J. Phys. D: Appl. Phys.,2010,43, 445302,
3.Evolution of optical properties of tin film from solid to liquid studied by spectroscopic ellipsometry and ab initio calculation,Appl. Phys. Lett.,2014,104, 121907,
4.Temperature dependent optical properties of Si nanocrystals embedded in SiO2 matrix,Applied Physics A 114,2014,Issue 2,423-427
5.Thickness-dependence of optical constants for Ta2O5 ultrathin films,Appl. Phys. A,2012,DOI 10.1007/s00339-012-7007-2,
6.Approach to Error Analysis and Reduction for Rotating-Polarizer-Analyzer Ellipsometer,Journal of the Physical Society of Japan 81,2012,124003,
7.Lateral shift effect on the spatial interference of light wave propagating in the single-layered dielectric film,Opt. Express 18,,10524,
8.Study of the new ellipsometric measurement method using integrated analyzer in parallel mode,Opt. Express,2009,17 ( 10 ) , 8641,
9.Design of non-polarizing cut-off filters based on dielectric-metal-dielectric stacks,Optics Express,2013,Vol.21, No.16, DOI: 10.1364/OE.21.019163 ,19163-19172
10.《近代光学》,北京:电子工业出版社,2011,,
获奖情况
2012年入选上海市优秀技术带头人计划
2003年获教育部提名国家技术发明一等奖(第二获奖人)
2006年入选教育部新世纪人才计划
更新日期:2014年3月
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